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 2015年10月18日(月)~21日(水)の間、アメリカ合衆国ミシガン州アナーバーで開催されたIEEE主催の国際会議「電気絶縁と誘電現象に関する国際会議」のポスターセッション「電気伝導・誘電分極、電荷蓄積と輸送」において、専攻科2年(医療福祉機器開発工学コース)の二見啓之君が、”High Field Dielectric Properties of Low Density Polyethylene with a Very Small Dent on Film Surface under AC Ramp Electric Field Application”(交流ランプ電界印加時のフィルム表面に非常に微小な窪みをつけた低密度ポリエチレンの高電界誘電特性」という題目で専攻科研究での研究成果を報告しました。この研究は、交流高電界下での絶縁破壊直前の電気伝導メカニズムを探ろうとする試みで、5秒で電界を 0~60 kV/mmまで昇圧し、直後に同じく5秒で60~0 kV/mmに降下させた際、絶縁体に流れる電流と電界発光を観測し、フィルム表面の傷が電気伝導にどのような影響を与えるのか調べたものです。国際会議では、参加者から試料作製方法や測定方法について、様々な質問がありました。

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