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11月28~29日、日本電子部品信頼性センタ主催の第27回RCJ信頼性シンポジウム(EOS/ESD/EMCシンポジウム)が大田区産業プラザ(東京)で開催され、優秀論文表彰式にて、本校電気電子工学科大津研究室の荻島規宏さん(専攻科2年)等が、「奨励賞」を受賞しました。

これは、今後の活躍が期待されるものに与えられる栄誉ある賞です。大津研究室では、電子機器の静電気対策技術に関する研究を行っており、昨年度の第26回RCJ信頼性シンポジウムに於いて、「光電界センサによる放電現象のタイムドメイン測定」(荻島規宏、 田代治己、尾原航平、大津孝佳、大沢隆二)として行った発表が評価されたものです。

荻島君は「この度、奨励賞を頂いて光栄に思っています。光電界センサのテーマで面白いデータが紹介できるよう、今後も研究に励みたいと思います」と語りました。

尚、11月29日には、大津研究室の田代治己君(専攻科1年)の「光電界センサーを用いた放電現象計測」や藤田真太朗君(専攻科1年)の「大気圧プラズマを用いた除電技術」の発表を行いました。

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